SEEG 100脑电性能测试仪

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关键词： SEEG 100脑电性能测试仪

产品介绍

产品简介

SEEG 100脑电性能测试仪专为法规标准设计的EEG脑电性能测试仪，符合标准: IEC 60601-2-26:2012、JJG 1043、JJF 1388、JJF 1390。适用于研发、法规符合性及产线测试

产品特点

1.专为法规标准设计的EEG脑电性能测试仪，符合标准: IEC 60601-2-26

2.依据新的EEG法规标准IEC 60601-2-26:2012所设计

3.精密电路设计，可输出1µV微小讯号

4.9通道自动切换开关可作个别信道的性能测试

5.内建 620kΩ/4.7nF 输出阻抗测试的EEG标准测试电路

6.良好的屏蔽与接地设计让讯号输出更加

7.可做为EEG讯号拨放器，可拨放PhysioNet EDF、text、binary 格式的波型讯号

8.IEC 60601-2-26 小帮手可简化法规标准测试所需花费的人力与时间

产品规格

Parameter	Specification	System capability
Main output voltage accuracy	±1% for amplitudes of 0.2mVpp or higher	±0.3%
Main output voltage resolution (DAC resolution)	0.5μV	0.5μV
Frequency / pulse repetition rate accuracy	±1%	±0.1%
Pulse duration / timing accuracy	±1ms	±0.2ms
Resistor tolerance	±1%	±0.5%
Capacitor tolerance	±5%	±5%
Precision 1000:1 divider (100KΩ:100Ω )	±0.2%	±0.05%
Sample rate	5kHz ± 0.1%	5kHz ± 0.05% (50ppm)
DC offset (fixed, noise free, from internal capacitor)	300mV ± 1%	300mV ±0.1%
Power supply	USB +5Vdc supply (no separate power supply required) 0.5A (high power mode)	Typical load<0.25A, up to 0.45A is possible if all relays are turned on
Environment	15 ~ 30°C

产品资料下载（百度云盘）：

提取码：g86o

操作软件下载（百度云盘）：

提取码：lc42