按键寿命测试设备【上海海悦】按键寿命试验仪

上海海悦电子科技有限公司成立于2006年，公司自成立至今一直专注于安规与电磁兼容试验设备的研发、生产和销售，公司的主要人员具有近20年的从业经历，有着丰富的实践经验，已经成功给多家大型认证实验室提供过测试设备的规划以及相应试验设备供应，公司自行生产数百种各类安规设备、试验仪器，并承接非标定制试验设备。

公司一直以严谨的态度，秉承“以诚信为基石，提供专业的技术服务，完善的解决方案，高品质的试验设备”的理念，不断的完善售后服务，提高产品品质，努力成为同行业的者.

我公司生产的按键寿命试验机可对计算机、计算器、笔记本电脑等各类橡胶、金属弹片按键作耐打击寿命测试，尤其适用于计算机键盘按键作疲劳测试。

我公司的按键寿命测试机HY-TA-90满足GB/T15767、GB14960等标准对按键的负荷寿命检测要求，满足测量遥控开关按键寿命测试。采用PLC电气控制，触摸屏智能化操作，伺服电机+凸轮推杆组合驱动；且配置红外感应系统，检测按键不到位的故障次数，保证计数；可预置试验次数，试验速度，可记录试验总次数，按键不到位次数；带有多功能通用夹具。可zui多增加到zui多40个测试头用于对电脑键盘、手机键盘等更多按键的产品进行按键的寿命测试。

产品参数

1.按压zui大行程：10mm；

2.工件高低调整范围：10-80mm

3.夹具夹持范围：400×300mm；

4.测试头安装范围：针对遥控开关按键，单个测试头可安装于350×250mm 不同位置；

针对电脑、手机键盘按键，可以zui多增加到40个测试头。分三排安装于350×250mm 不同位置

5.试验次数：0-999999次；可预置，可调。

6.试验速度：10-70次/分；可预置，可调。

7.键盘按键用测试砝码：共40组，每组带有3个砝码，分别为O.2N、O.3N、0.5N，三个砝码可随意组合；

8.测头数量：1-40个可扩充，zui多同时测试40个按键；根据样品的测试要求放置测头数量（遥控器按键测试采用一个测试头）；

9.两支测头之间的zui小间隔：X轴：14mm，Y轴：50mm；；

10.遥控器按键不到位次数：可记录。

11.遥控器按键故障判断：红外感应。

12.试样夹具：多功能通用夹具满足遥控器按键、手机按键、键盘按键等测试。

我公司同时代理销售国内外多家的安规设备厂商产品，包括：美国COMPWEST、意大利ATS、美国ED&D、台湾鲸扬、日本SOKEN、日本KIKUSUI、日本YOGOGAWA、台湾艾普斯、日本SOKEN、日本ESPEC等等。

公司在电磁兼容领域提供完整的EMI与EMS设备，代理供应包括欧洲EM-TEST、意大利AFJ、德国FRANKONIA、瑞士EMC－PARTNER、日本MORITA等众多厂家产品，同时公司也是北京科环在华东区销售网点。

完善客户的试验装备、提升客户的测试水平、增加客户的满意度是我们的努力目标。相信藉由高品质的试验设备和专业的技术服务，海悦会是您zui佳的合作伙伴！